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Outline: 1. Fundamentals on Testing and Design for Testability 2. Combinational Test Generation 3. Fault Simulation 4. Sequential Test Generation 5. Memory Testing 6. Testability Measure 7. Design for Testability 8. Boundary Scan 9. Built-In Self-Test 10. IDDQ Testing 清华大学芯片测试讲义pdf 
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学习~~~~~~~~~~~~~~~~~~~
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正在学习当中，谢谢楼主分享
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【电路设计】+ 双口RAM芯片测试模块（MSP430F122+MAX491）
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