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测量仪表

台阶仪原理与使用指南!请查收
台阶仪是一种接触式表面形貌测量仪器,可以对微米和纳米结构进行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波纹和表面粗糙度等的测量。台阶仪对测量工件的表面反光特性、材料种类、材料硬度都没有特别要求,样品适应面广,数据复现性高、测量稳定、便捷、高效,是微观表面测量中使用非常广泛的微纳样品测量手段。工作原理当触针沿被测表面轻轻滑过时,由于表面有微小的峰谷使触针在滑行的同时还沿峰
一文搞定涡轮流量计选用、安装、故障维修注意事项
涡轮流量计是一种速度式流量仪表,涡轮流量计的原理如下图。在管道中心安放一个涡轮,两端由轴承支撑。当流体通过管道时,冲击涡轮叶片,对涡轮产生驱动力矩,使涡轮克服摩擦力矩和流体阻力矩而产生旋转。
分享一种隔离器互调测试方法
3阶互调是衡量通讯系统线性度的一个重要指标,它反映了系统受到强信号干扰时互调失真的大小。
ROF系统三阶交调失真及测量方法
在射频或微波多载波通讯系统中,内部电光转换的非线性会产生三阶交调失真。
焕发新生---FLUKE福禄克DSP4000维修方案
说起fluke福禄克 DSP4000系列的测试仪器,相信很多对福禄克产品线略有了解的都应该有所耳闻,它属于元老级的产品了,迄今为止,有差不多超过二十多年的寿命了。然而就是这样一款堪称“爷爷”级别的老古董,如今在市场上依然在某些工程验收领域发光发热,这不手头上又收到客户快递过来的一套故障机维修。
你心爱的合宙IoT Power-CC表来了
亲爱的CC,你可知我等了多久?漫漫思念如蓝色月光,而我不孤独——春天的风、夏日的荷、秋天的雨,都曾陪我等过你……从03月到10月,合宙IoTPower-CC表历经众筹版、裸机版、抢鲜版,正式版外壳及新版整机终于整装待发!感谢工程师朋友们的热心支持与真心等待!合宙CC表有何不同合宙IoTPower-CC(简称CC表)是一款小型的手持式高精度电压电流测量设备,其
AEM TESTPRO CV-100支持最新的GB50312-2016国标标准?
AEM八类线缆测试仪支持最新的GB测试标准,高达3000MHz的测试频率,进口的AEM线缆分析仪支持POE验证和网络健康测试,测试结果和DSX-8000机会一致,差异性不会超过1Db。支持24小时支持,是系统集成,实验室第三方检测的最佳得力助手。
福禄克DTX-1800精度纠偏、原厂校准又为何做?
曾几何时,风靡各个线缆厂以及现场布线的利器------DTX-1800.由于产品的更新换代,带来的也是黯然离场。 但是,dtx-1800的目前存量毋庸置疑也是最大的。厂家于停止技术支持,可是有些客户手里的仪器无法进行FLUKE福禄克原厂校准服务。有些人就会问了,校准服务对于FLUKE DTX-1800有那么重要吗?今天我要给你答案,原厂校准很有必要,调整测试精度,回归出厂精度。由于DTX-1800
基于Ⅱ类超晶格的中波红外带间级联探测器设计实现
基于InAs/GaSb Ⅱ类超晶格(T2SL),科研人员成功实现了短波、中波、长波和甚长波的红外探测。
微流控芯片的粗糙度、高度宽度、空气层厚度等,用什么仪器测量?
随着科学技术的不断发展与医疗需求的逐渐增多,对微流控技术要求与微流控芯片种类需求也不断增多。优可测持续关注微流控技术发展,以高效、高精度的微观测量技术,推动微流控技术革新,精准助力生物医学、材料科学等行业的发展与进步。
基于铜卤化物单晶薄膜生长的深紫外光电探测器设计
深紫外光电探测器在导弹预警、臭氧层监测、火焰探测等军事和民用领域均有着广泛的应用。
LabVIEW与C# 注册事件相关方法
利用C#编写事件相关的类库,在WinForm和LabVIEW中进行测试,并描述相关程序的调用方法。
芯片剪切力测试机试验机推力速度
探索芯片剪切力测试机的推力速度对于了解芯片性能和质量具有重要意义。博森源电子将介绍芯片剪切力测试机的概念和原理,并深入研究推力速度对测试结果的影响。
纳米级测量仪器:窥探微观世界的利器
纳米级测量仪器在纳米科技研究领域中扮演着重要的角色。通过共聚焦显微镜、光学轮廓仪等的运用,科研人员们能够更加深入地了解纳米世界的奥秘。
常见的测量长度的工业仪器有哪些?
测量长度的工业仪器有许多种类型,每种类型的仪器都有各自的优点和适用范围。不同的工具适用于不同的测量需求和环境条件。请根据实际需求选择适合自己的工业仪器。
FLUKE福禄克 DSX-CHA004通道适配器更换方案
DSX-CHA004通道适配器,多次插拔,RJ45接口内置的8pin弹针会出现变形、断裂等不可控现象。针对此现象福禄克厂家给出了,更换rj45接口的解决方案。有的朋友会说了,除了更换,有没有其他方案。唯一的答案就是只能更换。本身就是损耗件,易耗品。 出现此种现象之后,最直接的结果就是,wire map有提示断开,导致不能继续测试其他射频参数。
使用强激光场探测液体中的电子动力学
来自汉堡马克斯普朗克物质结构与动力学研究所(MPSD)和苏黎世联邦理工学院的一个国际研究团队现在已经证明,有可能使用强激光场探测液体中的电子动力学,并检索电子平均自由程——电子在与另一个粒子相撞之前可以行进的平均距离。
工业镜头的景深、分辨率及如何匹配合适的工业相机
1、景深景深即在镜头架设好后,与被测物体间相对距离不做任何调节的情况下,可接受的能清晰成像的物方空间范围。在机器视觉中,相机芯片为光学系统的像平面,物方与像平面共轭的平面称为对准平面。严格的来讲除对准平面上的点能成点像外,其他空间点在像平面上成像为弥散斑。但由于芯片的分辨率是有限的,因此当弥散斑小于一定限度时,仍可认为是一个像点,即成像清晰。因此景深定义为:
基于RoboMasterC板的RT-Thread使用分享—i2c读取磁力计数据实验
I2C 是 PHILIPS 公司开发的一种半双工、双向二线制同步串行总线。
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